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電子元器件高溫高濕儲存測試方法
點擊次數:713 更新時間:2023-05-16

電子元器件高溫高濕儲存測試方法:

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目的:

測試高溫高濕儲存環境對元器件的結構, 整機電氣的影響, 以考量結構設計及零件選用的合理性.

測試條件:

儲存高溫高濕條件: 通常為溫度70±2℃, 濕度90-95% 黄瓜TV免费视频時間24Hrs(非操作條件).

測試方法:

(1). 黄瓜TV免费视频前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況;

(2). 將確認後的待測品置入恒溫恒濕機內, 依規格設定其溫度和濕度,然後啟動溫控室;

(3). 黄瓜TV免费视频24Hrs, 黄瓜TV免费视频結束後在空氣中放置至少4Hrs,再確認待測品外觀, 結構及電氣性能是否有異常.

注意事項:

(1). 產品黄瓜TV免费视频期間與黄瓜TV免费视频後,產品性能不能出現降級與退化現象.

(2). 黄瓜TV免费视频後產品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規格書要求.

低溫操作測試

目的:

測試低溫環境對元器件操作過程中的結構及整機電氣的影響, 用以考量結構設計及零件選用的合理性.

測試方法:

(1). 將待測品置於溫控室內, 依規格設定好輸入輸出測試條件, 然後開機.

(2). 依規格設定好溫控室的溫度,然後啟動溫控室.

(3). 定時記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常;

(4). 做完測試後將待測品從溫控室中移出, 在常溫環境下恢複至少4小時,然後確認其外觀和電氣性能有無異常.

注意事項:

(1). 產品黄瓜TV免费视频期間與黄瓜TV免费视频後,產品性能不能出現降級與退化現象.

(2). 黄瓜TV免费视频後產品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規格書要求.

低溫儲存測試

目的:

測試低溫儲存環境對S.M.P.S. 的結構, 元件及整機電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結構設計及零件選用的合理性.

測試條件:

儲存低溫條件: 通常為溫度-30℃, 黄瓜TV免费视频時間24Hrs(非操作條件).

測試方法:

(1). 黄瓜TV免费视频前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認後的待測品置入恒溫恒濕機內, 依規格設定其溫度,然後啟動溫控室.

(3). 黄瓜TV免费视频24Hrs, 黄瓜TV免费视频結束後在空氣中放置至少4Hrs, 再將待測品做HI-POT 測試, 記錄測試結果, 之後確認待測品的外觀, 結構及電氣性能是否有異常.

注意事項:

(1). 產品黄瓜TV免费视频期間與黄瓜TV免费视频後,產品性能不能出現降級與退化現象.

(2). 黄瓜TV免费视频後產品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規格書要求.


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